薄層色譜掃描儀掃描方式
薄層色譜掃描儀是一種全波長掃描儀,提供波長200-800nm范圍的可選波長,通過檢測樣品對光的吸收強(qiáng)弱確定物質(zhì)含量。該掃描儀也能檢測254nm或365nm紫外照射產(chǎn)生的熒光強(qiáng)度,從而進(jìn)行特異性檢測。
傳統(tǒng)掃描儀的掃描方式分為:單光束掃描、雙光束掃描和雙波長掃描。
單光束掃描:采用單一光束(即單一波長掃描),其結(jié)果就是上圖中一特定波長條件下的單條曲線。儀器結(jié)構(gòu)簡單,但是基線不穩(wěn),實(shí)際中很少使用。
雙光束掃描:采用同一波長的兩個(gè)光束同步掃描,一個(gè)光束掃描樣品展開通道,另一個(gè)光束掃描樣品通道旁邊的空白區(qū)域,這樣就可扣除空白吸收,部分消除薄層板展開方向鋪板不均勻產(chǎn)生的誤差。但是無法消除垂至于展開方向鋪板不均勻產(chǎn)生的誤差。
雙波長掃描:兩個(gè)不同波長的光束交替掃描樣品展開的通道區(qū)域,波長選擇時(shí),一個(gè)波長為樣品大吸收位置,另一是吸收極小值位置。如上圖所示,如檢測目標(biāo)為3(則大吸收峰為290nm,極小值可選200nm、260nm或325nm)。這種方法可基本消除鋪板不均產(chǎn)生的誤差,因此掃描基線很穩(wěn)定。
直線掃描:用可以覆蓋樣品展開通道的寬光束一次性掃完整個(gè)展開通道,即在展開方向上(圖中橫坐標(biāo)),每個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)只是一個(gè)掃描數(shù)據(jù)點(diǎn)。
鋸齒掃描:采用點(diǎn)狀光源,光點(diǎn)尺寸小于通道寬度,因此在展開方向移動到任何一點(diǎn)時(shí),光源都要逐點(diǎn)沿樣品通道方向掃描,即形成"之"形(或鋸齒形掃描)。這樣,在展開方向上每一點(diǎn)的數(shù)據(jù)都是多個(gè)點(diǎn)掃描結(jié)果的累加值。鋸齒掃描的精度相對直線掃描明顯提高。